IEC 60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits – Part 5-3: Optoelectronic devices – Measuring methods - Edition 1.1 Consolidated Reprint
International Electrotechnical Commission
Discrete semiconductor devices and integrated circuits – Part 5-3: Optoelectronic devices – Measuring methods - Edition 1.1 Consolidated Reprint
N 60747-5-3
Annotation
This part of IEC 60747 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.
Автоматический перевод:
Дискретные полупроводниковые устройства и интегральные схемы – Часть 5-3: Оптоэлектронные устройства – Измеряющиеся методы - Выпуск 1.1 Объединенная Перепечатка
Эта часть IEC 60747 описывает методы измерения, применимые к оптоэлектронным устройствам, не предназначающимся, чтобы использоваться в волоконно-оптических системах или крупных узлах системы.
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
Скачать документ нельзя
Вы можете заказать документ
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
или посмотрите возможности крупнейшей электронной библиотеки «Техэксперт» — более 25 000 000 документов!
