Документы

5 Классификация способов радиографического контроля и принципы компенсации

• 5.1 Классификация

• 5.2 Принципы компенсации CPI, CPII и CPIII

6 Основные подготовительные операции и требования

• 6.1 Защита от ионизирующего излучения

• 6.2 Подготовка поверхности и стадия производства

• 6.3 Расположение сварного шва на радиографическом снимке (радиограмме)

• 6.4 Идентификация радиографических снимков (радиограмм)

• 6.5 Маркировка

• 6.6 Перекрытие цифровых изображений

• 6.7 Типы и положения индикаторов качества изображения

• 6.8 Минимальные значения показателей качества изображения

• 6.9 Квалификация персонала

7 Рекомендуемые способы получения цифровых радиографических снимков (радиограмм)

• 7.1 Схемы контроля

  • Рисунок 1 - Схема контроля для плоских сварных швов при просвечивании через одну стенку

  • Рисунок 2 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку

  • Рисунок 3 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку (сварной шов вставной детали)

  • Рисунок 4 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку (сварной шов наложенной детали)

  • Рисунок 5 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку. Плоские детекторы не применимы

  • Рисунок 6 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку (сварной шов вставной детали)

  • Рисунок 7 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку (сварной шов наложенной детали)

  • Рисунок 8 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку

  • Рисунок 9 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку (сварной шов вставной детали)

  • Рисунок 10 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через одну стенку (сварной шов наложенной детали)

  • Рисунок 11 - Схема контроля изогнутых объектов для контроля двух стенок при просвечивании через две стенки (двойное изображение, источник излучения и детектор - снаружи)

  • Рисунок 12 - Схема контроля изогнутых объектов для контроля двух стенок при просвечивании через две стенки (двойное изображение, источник излучения и детектор - снаружи)

  • Рисунок 13 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через две стенки (одно изображение) для контроля стенки, ближайшей к детектору; IQI располагается на детекторе

  • Рисунок 14 - Схема контроля при просвечивании через две стенки (одно изображение)

  • Рисунок 15 - Схема контроля продольного сварного шва при просвечивании через две стенки (одно изображение)

  • Рисунок 16 - Схема контроля изогнутых объектов при просвечивании через две стенки (одно изображение) для оценивания стенки, ближайшей к детектору

  • Рисунок 17 - Схема контроля при просвечивании угловых сварных швов

  • Рисунок 18 - Схема контроля при просвечивании угловых сварных швов

  • Рисунок 19 - Схема контроля с использованием нескольких детекторов. Применяется только для CR

• 7.2 Выбор напряжения на трубке и источника излучения

  • Рисунок 20 - Максимальное напряжение на рентгеновской трубке для источников до 1000 кВ как функция от просвечиваемой толщины и материала

• 7.3 Детекторные системы и металлические экраны

• 7.4 Направление пучка излучения

• 7.5 Уменьшение рассеянного излучения

• 7.6 Расстояние от источника излучения до объекта контроля

  • Рисунок 21 - Номограмма для определения минимального расстояния от источника излучения до объекта контроля, в зависимости от расстояния от объекта контроля до детектора b и размера источника излучения d

• 7.7 Способ геометрического увеличения

• 7.8 Максимальная область при однократной экспозиции

• 7.9 Обработка данных

Приложение А (обязательное). Рекомендуемое количество экспозиций, обеспечивающее приемлемое качество контроля кольцевых стыковых сварных швов

• Рисунки А.1-А.4 - Минимальное требуемое количество экспозиций для труб наружным диаметром более 100 мм

Приложение С (обязательное). Определение базового пространственного разрешения

• Рисунок С.1 - Пример оценки IQI двухпроволочного типа с полученным значением показателя качества по IQI - D8, соответствующим первой паре проволочек с отношением глубины впадины к пикам на профиле распределения значений градаций серого (dip) менее 20%

• Рисунок С.2 - Пример определения интерполированного базового пространственного разрешения путем интерполяции измеренной глубины модуляции для соседних парных проволочек

Приложение D (обязательное). Определение минимальных значений градации серого при применении CR

• Рисунок D.1 - Схема для определения эквивалентных значений градаций серого CR-системы для требуемых минимальных значений SRN(N) (по таблицам 3 или 4)

• Рисунок D.2 - Результаты измерения среднего значения градаций серого и SNR(N) на ступени изображения ступенчатого клина

• Рисунок D.3 - График зависимости SNR(N) от средних значений градаций серого по измерениям в соответствии с рисунком D.2